标准号：GB/T 14115-1993
实施状态：现行
中文名称：半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
英文名称：General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits
组织分类：GB
中标分类：L56
ICS分类：31.200
标准分类：CN
发布日期：1993-01-21
实施日期：1993-08-01
被替代标准：
代替标准：
归口单位：无
起草单位：上海元件五厂
范围：本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。
文件格式：PDF
文件大小：298.72KB
文件页数：14
（以上信息更新时间为：2019-05-07）
标准全文下载：
GB_T 14115-1993 半导体集成电路采样_保持放大器测试方法的基本原理.pdf
(298.72 KB)
|
|
