标准号：GB/T 5594.3-1985
实施状态：已作废
中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法
英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components. Test method for mean coefficient of linear expansion
组织分类：GB
中标分类：L32
ICS分类：31.030
标准分类：CN
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
作废日期：2016-01-01
被替代标准：GB/T 5594.3-2015
归口单位：无
起草单位：电子工业部12研究所
范围：本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子元器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。
文件格式：PDF
文件大小：88.35KB
文件页数：2
（以上信息更新时间为：2019-05-11）
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GB_T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 平均线膨胀系数测试方法.pdf
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