标准号:GB/T 5594.1-1985
实施状态:现行
中文名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
英文名称:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components. Test method for gas-tightness
组织分类:GB
中标分类:L32
ICS分类:31.030
标准分类:CN
发布日期:1985-11-27
实施日期:1986-12-01
归口单位:无
起草单位:电子工业部12所
范围:本标准适用于电子元器件结构陶瓷室温下气密性的测试。
文件格式:PDF
文件大小:118.50KB
文件页数:3
(以上信息更新时间为:2019-05-11)
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