标准号：SJ/T 11212-1999
实施状态：现行
中文名称：石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量
英文名称：Measurement of quartz crystal unit parameters. Part 6:Measurement of drive level dependence (DLD)
组织分类：SJ
中标分类：L21
标准分类：QT
发布日期：1999-08-26
实施日期：1999-12-01
采用标准：IEC 444-6-1995,IDT
归口单位：电子工业部标准化研究所
起草单位：电子工业部标准化研究所
范围：本标准适用于石英晶体元件激励电平相关性(DlD)的测量。本标准规定两种试验方法。方法A,以SJ/Z 9154.1-87的π型网络为基础,适用于该标准所覆盖的整个频率范围。方法B,是振荡器法,适用于固定条件下大批量基频石英晶体元件的测量。
文件格式：PDF
文件大小：2.51MB
文件页数：16
（以上信息更新时间为：2019-04-30）
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SJ_T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第6部分_激励电平相关性(DLD)的测量.pdf
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