标准号：SJ 20400-1994
实施状态：现行
中文名称：低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法
英文名称：Methods of near. field measurement for planar waveguide -- fed slot arrays with low sidelobes
组织分类：SJ
中标分类：V41
标准分类：QT
发布日期：1994-09-30
实施日期：1994-12-01
被替代标准：
代替标准：
归口单位：无
起草单位：电子工业部第十四研究所
范围：本标准规定了低副瓣平板裂缝天线(以下简称天线)性能的平面近场测试方法。本标准适用于频率从3GHz到18GHz,副瓣电平劣于-35dB的线极化平板裂缝天线性能的近场测试。相邻波段及其它形式面天线也可参照使用。
文件格式：PDF
文件大小：3.32MB
文件页数：18
（以上信息更新时间为：2019-05-05）
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SJ 20400-1994 低副瓣平板裂缝天线性能近场测试方法.pdf
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