标准号：SJ 3234-1989
实施状态：现行
中文名称：电子材料真空放气性能的动态测试方法
英文名称：Test method for dynamic relating to vacuum gas emission properties of electronic material
组织分类：SJ
中标分类：L90
标准分类：QT
发布日期：1989-02-20
实施日期：1989-03-25
归口单位：无
起草单位：四四00厂
范围：本标准适用于电子材料在真空环境中热脱附的放气量、放气速率及就气成份的动态分析。
文件格式：PDF
文件大小：976.84KB
文件页数：6
（以上信息更新时间为：2019-05-10）
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