标准号:SJ 3249.3-1989
实施状态:现行
中文名称:半绝缘砷化镓中铬浓度的红外吸收测试方法
英文名称:Methods of measurement for chromium concentration in semi-insulation Gallium arsenide by infra-red absorption
发布日期:1989-03-20
实施日期:1989-03-25
归口单位:中华人民共和国机械电子工业部
起草单位:机械电子工业部第四十六研究所
标准简介:本标准规定了半绝缘砷化镓中铬浓度的红外吸收测是原理、仪器设备、测量步骤、结果计算和精度等。本标准适用于掺铬水平法生长半绝缘砷化镓中Gr浓度的测定,适于样品厚度2~4mm。不适于铬浓度大于1.5×10^(17)cm^(-3)的试样。
文件格式:PDF
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文件页数:2
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