标准号：EJ/T 1184-2005
实施状态：现行
中文名称：贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定
英文名称：Determination of micro silicon in depleted uranium tetrafluoride by spectrophotometric method
发布日期：2005-04-11
实施日期：2005-07-01
归口单位：核工业标准化研究所
起草单位：国营八一四厂
标准简介：本标准规定了分光光度法测定贫化四氟化铀中微量硅的方法原理、试剂、仪器、分析步骤、结果计算和方法的精密度。本标准适用于贫化四氟化铀中微量硅的测定,其它丰度的四氟化铀中微量硅的测定可参照使用。当取样量为0.25g四氟化铀时,硅的测定范围为:(10～120)μg/g。在测量范围内,40μg磷、3μg砷不干扰硅的测定。
文件格式：PDF
文件大小：233.20KB
文件页数：5
（以上信息更新时间为：2019-12-26）
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EJ_T 1184-2005 贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定.pdf
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