标准号：SJ/T 2658.15-2016
实施状态：现行
中文名称：半导体红外发射二极管测量方法 第15部分:热阻
英文名称：Measuring method for semiconductor infrared-emitting diode. Part 15: Thermal resistance
发布日期：2016-01-15
实施日期：2016-06-01
归口单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
起草单位：工业和信息化部电子工业标准化研究院
标准简介：本部分规定了半导体红外发射二极管（以下简称器件）热阻的测量原理图、测量步骤以及规定条件。本部分适用于半导体红外发射二极管。
文件格式：PDF
文件大小：2.25MB
文件页数：6
（以上信息更新时间为：2019-03-28）
标准全文下载：
SJ_T 2658.15-2016 半导体红外发射二极管测量方法 第15部分_热阻.pdf
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