标准号：EN 60749-38-2008
实施状态：现行
中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第38部分:带存储器的半导体器件用软错误试验法
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
发布日期：2008-05-01
文件格式：PDF
文件大小：609.31KB
文件页数：16 （以上信息更新时间为：2019-11-30）
