标准号：EN 60749-37-2008
实施状态：现行
中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第37部分:使用加速计的板级跌落试验方法
英文名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 37: Board level drop test method using an accelerometer
发布日期：2008-04-01
文件格式：PDF
文件大小：787.62KB
文件页数：22 （以上信息更新时间为：2019-11-30）
