标准号：EN 60749-23-2004
实施状态：现行
中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命 IEC 60749-23-2004
英文名称：Semiconductor devices �C Mechanical and climatic test methods Part 23: High temperature operating life (Incorporates Amendment A1: 2011)
发布日期：2004-04-01
文件格式：PDF
文件大小：627.60KB
文件页数：12 （以上信息更新时间为：2019-11-30）
