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EN 60749-16-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子碰撞噪声探测(PIND)IEC 60749-16-2003

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标准号：EN 60749-16-2003
实施状态：现行
中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分:粒子碰撞噪声探测(PIND)IEC 60749-16-2003
英文名称：Semiconductor devices  Mechanical and climatic test methods  Part 16: Particle impact noise detection (PIND)
发布日期：2003-04-01
文件格式：PDF
文件大小：328.29KB
文件页数：10
（以上信息更新时间为：2019-11-30）

EN 60749-16-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第16部分_粒子碰撞噪声探测(PIND)IEC 60749-16-2003.pdf (328.29 KB)
器件, 机械, 部分, 粒子, 碰撞

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