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[欧洲标准] EN 60749-17-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照 IEC 60749-17-2003

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6 | 2010-6-12 23:07 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准号：EN 60749-17-2003
实施状态：现行
中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照 IEC 60749-17-2003
英文名称：Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 17: Neutron irradiation
发布日期：2003-04-01
文件格式：PDF
文件大小：359.72KB
文件页数：10
（以上信息更新时间为：2019-11-30）

EN 60749-17-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分_中子辐照 IEC 60749-17-2003.pdf (359.72 KB)

器件, 机械, 部分, 中子, 辐照

[欧洲标准] EN 60749-17-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第17部分:中子辐照 IEC 60749-17-2003

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