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EN 60749-3-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检查 IEC 60749-3-2002;部分替代:EN 60749:1999+A1-2000+A2-2001

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查看9160 | 回复5 | 2010-6-17 18:12 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号：EN 60749-3-2002
实施状态：现行
中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检查 IEC 60749-3-2002;部分替代:EN 60749:1999+A1-2000+A2-2001
英文名称：Semiconductor Devices  Mechanical and Climatic Test Methods Part 3: External Visual Examination
发布日期：2002-08-27
文件格式：PDF
文件大小：381.13KB
文件页数：8
（以上信息更新时间为：2019-11-30）

EN 60749-3-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分_外观检查 IEC 60749-3-2002;部分替代_EN 60749_1999+A1-2000+A2-2001.pdf (381.13 KB)
器件, 机械, 部分, 替代, 半导体器件

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