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EN 60749-3-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部 ...
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[欧洲标准]
EN 60749-3-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检查 IEC 60749-3-2002;部分替代:EN 60749:1999+A1-2000+A2-2001
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2010-6-17 18:12
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标准号:
EN 60749-3-2002
实施状态:
现行
中文名称:
半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检查 IEC 60749-3-2002;部分替代:EN 60749:1999+A1-2000+A2-2001
英文名称:
Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 3: External Visual Examination
发布日期:
2002-08-27
文件格式:
PDF
文件大小:
381.13KB
文件页数:
8
(以上信息更新时间为:2019-11-30)
EN 60749-3-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分_外观检查 IEC 60749-3-2002;部分替代_EN 60749_1999+A1-2000+A2-2001.pdf
(381.13 KB)
2010-6-17 18:12 上传
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替代
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半导体器件
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