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EN 60749-4-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:稳态温度湿度偏差耐久性试验 IEC 60749-4-2002;部分替代 EN 60749:1999+A1-2000+A2-2001

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查看8039 | 回复2 | 2010-4-4 18:22 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号：EN 60749-4-2002
实施状态：现行
中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:稳态温度湿度偏差耐久性试验 IEC 60749-4-2002;部分替代 EN 60749:1999+A1-2000+A2-2001
英文名称：Semiconductor Devices  Mechanical and Climatic Test Methods Part 4: Damp Heat@ Steady State@ Highly Accelerated Stress Test (HAST)
发布日期：2002-08-01
文件格式：PDF
文件大小：412.36KB
文件页数：12
（以上信息更新时间为：2019-11-30）

EN 60749-4-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分_稳态温度湿度偏差耐久性试验 IEC 60749-4-2002;部分替代 EN 60749_1999+A1-2000+A2-2001.pdf (412.36 KB)
器件, 机械, 部分, 温度, 湿度

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