标准号：EN 60749-6-2002
实施状态：现行
中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第6部分:高温下储存 部分替代EN 60749-1999+A1-2000+A2-2001;IEC 60749-6-2002
英文名称：Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 6: Storage at High Temperature
发布日期：2002-08-01
文件格式：PDF
文件大小：345.01KB
文件页数：8 （以上信息更新时间为：2019-11-30）
