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EN 60749-9-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性 IEC 60749-6-2002;部分替代 EN 60749-1999+A1-2000+A2-2001

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5 | 2010-6-14 15:52 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准号：EN 60749-9-2002
实施状态：现行
中文名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性 IEC 60749-6-2002;部分替代 EN 60749-1999+A1-2000+A2-2001
英文名称：Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods Part 9: Permanence of Marking
发布日期：2002-08-01
文件格式：PDF
文件大小：327.22KB
文件页数：10
（以上信息更新时间为：2019-11-30）

EN 60749-9-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分_标记的永久性 IEC 60749-6-2002;部分替代 EN 60749-1999+A1-2000+A2-2001.pdf (327.22 KB)

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EN 60749-9-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第9部分:标记的永久性 IEC 60749-6-2002;部分替代 EN 60749-1999+A1-2000+A2-2001

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