EN 60749-12-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分:振动,可变频率 部分替代BS EN 60749-12-2002+A1-2000+A2-2001

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标准号:EN 60749-12-2002
实施状态:现行
中文名称:半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分:振动,可变频率 部分替代BS EN 60749-12-2002+A1-2000+A2-2001
英文名称:Semiconductor Devices  Mechanical and Climatic Test Methods Part 12: Vibration@ Variable Frequency
发布日期:2002-08-01
文件格式:PDF
文件大小:303.11KB
文件页数:8
(以上信息更新时间为:2019-11-30)

EN 60749-12-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第12部分_振动,可变频率 部分替代BS EN 60749-12-2002+A1-2000+A2-2001.pdf (303.11 KB)

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