HD 396-1979 半导体辐射探测器和闪烁计数试验方法用术语的定义

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标准号:HD 396-1979
实施状态:现行
中文名称:半导体辐射探测器和闪烁计数试验方法用术语的定义
英文名称:Definitions of Test Method Terms for Semiconductor Radiation Detectors and Scintillation Counting
发布日期:1979-01-01
文件格式:PDF
文件大小:43.91KB
文件页数:1
(以上信息更新时间为:2019-12-01)

HD 396-1979 半导体辐射探测器和闪烁计数试验方法用术语的定义.pdf (43.91 KB)

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