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HD 396-1979 半导体辐射探测器和闪烁计数试验方法用术语 ...
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[欧洲标准]
HD 396-1979 半导体辐射探测器和闪烁计数试验方法用术语的定义
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743
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2010-6-5 16:23
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标准号:
HD 396-1979
实施状态:
现行
中文名称:
半导体辐射探测器和闪烁计数试验方法用术语的定义
英文名称:
Definitions of Test Method Terms for Semiconductor Radiation Detectors and Scintillation Counting
发布日期:
1979-01-01
文件格式:
PDF
文件大小:
43.91KB
文件页数:
1
(以上信息更新时间为:2019-12-01)
HD 396-1979 半导体辐射探测器和闪烁计数试验方法用术语的定义.pdf
(43.91 KB)
2010-6-5 16:23 上传
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文档语言及版本参照下方封面截图:
探测器
,
闪烁
,
术语
,
定义
,
计数
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