标准号：ISO 22493-2008
实施状态：作废
中文名称：微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇
英文名称：Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
发布日期：2008-10
被替代标准：ISO 22493-2014
代替标准：ISO/FDIS 22493-2008
采用标准：BS ISO 22493-2008,IDT;GB/T 23414-2009,IDT;NF X21-010-2009,IDT
起草单位：ISO/TC 202
文件格式：PDF
文件大小：285.95KB
文件页数：30
（以上信息更新时间为：2019-11-22）
ISO 22493-2008 微光束分析.扫描电子显微镜方法.词汇.pdf
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