IEC 60747-2-1-1989 半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第1节:电流在100A以下环境和外壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范

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查看3913 | 回复4 | 2019-9-5 14:01 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:IEC 60747-2-1-1989
实施状态:作废
中文名称:半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第1节:电流在100A以下环境和外壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
英文名称:Semiconductor devices; discrete devices; part 2: rectifier diodes; section one: blank detail specification for rectifier diodes (including avalanche rectifier diodes), ambient and case-rated, up to 100 A
发布日期:1989-04
采用标准:BS QC 750108-1990,IDT;SEV-ASE 3608-2-1-1990,IDT;DS/IEC 747-2-1(/DEK),IDT
起草单位:IEC/TC 47
标准简介:The blank detail specification described includes mechanical description, categories of assessed quality, limiting values, electrical characteristics, marking, ordering information, test conditions and inspection requirements.
文件格式:PDF
文件大小:1.00MB
文件页数:28
(以上信息更新时间为:2019-11-25)

IEC 60747-2-1-1989 半导体器件 分立器件 第2部分_整流二极管 第1节_电流在100A以下环境和外壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范.pdf (1 MB)

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