标准号：IEC 60747-11-1985
实施状态：作废
中文名称：半导体器件 分立器件 第11部分:分立器件分规范
英文名称：Semiconductor devices. Discrete devices. Part 11: Sectional specification for discrete devices (Edition 1.0; Includes Amendment 1: 11/1991 and Amendment 2: 05/1996)
发布日期：1985
采用标准：DIN IEC 60747-11-1992,IDT;BS QC 750100+A2-1986,IDT;GB/T 12560-1999,IDT;UTE C96-011U-1989,IDT;SEV-ASE 3608-11-1987,IDT;PN-T-01204-1990,IDT;UNE 20700-11-1991,IDT;GOST 28624-1990,IDT;DS/IEC 747-11-1987,IDT;NEN 10747-11-1986,IDT
起草单位：IEC/TC 47
标准简介：Applicable to quality assessment for discrete semiconductor devices. Gives specific requirements for quality conformance inspection (included in QC 750000 of the IECQ system) and identification of terminals; represents the sectional specification. Contai
文件格式：PDF
文件大小：2.26MB
文件页数：62
（以上信息更新时间为：2019-11-25）
IEC 60747-11-1985 半导体器件 分立器件 第11部分_分立器件分规范.pdf
(2.26 MB)
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