[国家标准] GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法

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4 | 2020-6-17 01:31 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准号：GB/T 5252-2020
实施状态：未实施
中文名称：锗单晶位错密度的测试方法
英文名称：Test method for dislocation density of monocrystal germanium
发布日期：2020-06-02
实施日期：2021-05-01
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管单位：国家标准化管理委员会
文件格式：PDF
文件大小：4.46MB
文件页数：9
（以上信息更新时间为：2020-06-17）

标准全文下载：

GB_T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法.pdf (4.46 MB)

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[国家标准] GB/T 5252-2020 锗单晶位错密度的测试方法

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