[国家标准] GB/T 14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

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查看9054 | 回复1 | 2010-6-22 18:43:07 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:GB/T 14620-1993
实施状态:废止
中文名称:薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
英文名称:Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
发布日期:1993-09-03
实施日期:1993-12-01
废止日期:2014-04-15
被替代标准:GB/T 14620-2013
执行单位:工业和信息化部(电子)
主管单位:工业和信息化部(电子)
归口单位:工业和信息化部(电子)
标准简介:本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。  本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称基片)。
文件格式:PDF
文件大小:439.02KB
文件页数:5
(以上信息更新时间为:2020-07-03)

标准全文下载:
GB_T 14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片.pdf (439.02 KB)
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张总 | 2020-10-19 21:40:59 | 显示全部楼层
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