GB/T 14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

显示全部楼层 · 2010-6-22 18:43

标准号：GB/T 14620-1993
实施状态：废止
中文名称：薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
英文名称：Alumina ceramic substrates for thin film integrated circuits
发布日期：1993-09-03
实施日期：1993-12-01
废止日期：2014-04-15
被替代标准：GB/T 14620-2013
执行单位：工业和信息化部（电子）
主管单位：工业和信息化部（电子）
归口单位：工业和信息化部（电子）
标准简介：本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的结构尺寸、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。　　本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称基片)。
文件格式：PDF
文件大小：439.02KB
文件页数：5
（以上信息更新时间为：2020-07-03）

标准全文下载：

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[国家标准] GB/T 14620-1993 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

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