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[国家标准] GB/T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法

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5 | 2020-10-19 08:58 | 显示全部楼层 |阅读模式

标准号：GB/T 8760-2020
实施状态：未实施
中文名称：砷化镓单晶位错密度的测试方法
英文名称：Test method for dislocation density of monocrystal gallium arsenide
发布日期：2020-09-29
实施日期：2021-08-01
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管单位：国家标准化管理委员会
文件格式：PDF
文件大小：3.97MB
文件页数：8
（以上信息更新时间为：2020-10-19）

标准全文下载：

GB_T 8760-2020 砷化镓单晶位错密度的测试方法.pdf (3.97 MB)

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