[电子] SJ 21565.2-2020 微波多芯片组件控氢要求 第2部分:释氢量测试方法

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查看8897 | 回复5 | 2020-11-6 02:26 | 显示全部楼层 |阅读模式
本部分规定了微波组件和多芯片组件控氢中的释氢量测试目的及分类、样件设计与制作、激发释氢条件、测试程序等。本部分适用于微波组件和多芯片组件(以下简称组件)的设计、制造、检验等过程中原材料、零部件、器件或组件的释氢量测试。其他产品材料或器件的释氢量测试可参照使用。

标准编号:SJ 21565.2-2020
标准中文名称:微波多芯片组件控氢要求 第2部分:释氢量测试方法
标准英文名称:Demands for hydrogen-control of multi-chip microwave module -Part2:Test method for hydrogen releasing amount
标准实施状态:现行
发布日期:2020-06-03
实施日期:2020-08-01
提出单位:中国电子科技集团有限公司
标准文本格式:PDF
标准文本大小:5.38MB
标准文本页数:14
(以上信息更新时间为:2020-11-07)

标准全文下载:
SJ 21565.2-2020 微波多芯片组件控氢要求 第2部分:释氢量测试方法.pdf (5.38 MB)

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