SJ 21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法

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查看3128 | 回复5 | 2017-1-8 14:00 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了微波组件低气压检漏的试验程序与试验方法。本标准适用于频率大于300 MHz的微波组件密封性能的检测。

标准编号:SJ 21160-2016
标准中文名称:微波组件低气压检漏试验方法
标准英文名称:Low pressure leak detection test method for microwave assembly
标准实施状态:现行
发布日期:2016-12-14
实施日期:2017-03-01
标准文本格式:PDF
标准文本大小:5.18MB
标准文本页数:8
(以上信息更新时间为:2020-11-10)

标准全文下载:
SJ 21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法.pdf (5.18 MB)

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