SJ 21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法

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5 | 2017-1-8 14:00 | 显示全部楼层 |阅读模式

本标准规定了微波组件低气压检漏的试验程序与试验方法。本标准适用于频率大于300 MHz的微波组件密封性能的检测。

标准编号：SJ 21160-2016
标准中文名称：微波组件低气压检漏试验方法
标准英文名称：Low pressure leak detection test method for microwave assembly
标准实施状态：现行
发布日期：2016-12-14
实施日期：2017-03-01
标准文本格式：PDF
标准文本大小：5.18MB
标准文本页数：8
（以上信息更新时间为：2020-11-10）

标准全文下载：

SJ 21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法.pdf (5.18 MB)

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SJ 21160-2016 微波组件低气压检漏试验方法

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