[国家计量技术规范] JJF 1760-2019 硅单晶电阻率标准样片校准规范

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5 | 2020-11-10 13:58 | 显示全部楼层 |阅读模式

本规范适用于电阻率在0. 003 Ω•cm～1000Ω •cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。

标准编号：JJF 1760-2019
标准中文名称：硅单晶电阻率标准样片校准规范
标准英文名称：Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity
标准实施状态：现行
发布日期：2019-09-27
实施日期：2020-03-27
代替标准：JJG 48-2004
引用标准：JJG 508-2004;GB/T 14264
标准文本格式：PDF
标准文本大小：1.45MB
标准文本页数：25
（以上信息更新时间为：2020-11-11）

标准全文下载：

JJF 1760-2019 硅单晶电阻率标准样片校准规范.pdf (1.45 MB)

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[国家计量技术规范] JJF 1760-2019 硅单晶电阻率标准样片校准规范

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