[国家计量技术规范] JJF 1760-2019 硅单晶电阻率标准样片校准规范

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查看6031 | 回复4 | 2020-11-10 13:58:19 | 显示全部楼层 |阅读模式
本规范适用于电阻率在0. 003 Ω•cm~1000Ω •cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。

标准编号:JJF 1760-2019
标准中文名称:硅单晶电阻率标准样片校准规范
标准英文名称:Calibration Specification for Standard Slices of  Single Crystal Silicon Resistivity
标准实施状态:现行
发布日期:2019-09-27
实施日期:2020-03-27
代替标准:JJG 48-2004
引用标准:JJG 508-2004;GB/T 14264
标准文本格式:PDF
标准文本大小:1.45MB
标准文本页数:25
(以上信息更新时间为:2020-11-11)

标准全文下载:
JJF 1760-2019 硅单晶电阻率标准样片校准规范.pdf (1.45 MB)
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萌萌哒 | 2020-11-14 01:57:53 | 显示全部楼层
非常棒,帮了我大忙了
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空人空心空世界 | 2020-11-14 06:50:10 | 显示全部楼层
下载看看
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疼过痛过 | 2020-11-17 07:26:19 | 显示全部楼层
学习学习 ~
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d_qMqrsjG8 | 2020-11-17 13:58:17 | 显示全部楼层

非常棒,帮了我大忙了
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