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[国家标准]
GB/T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
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2021-3-21 20:43
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标准编号:GB/T 38532-2020
中文名称:微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定
英文名称:Microbeam analysis—Electron backscatter diffraction—Measurement of average grain size
发布日期:2020-03-06
实施日期:2021-02-01
采用标准:本标准等同采用ISO国际标准-ISO 13067-2011
全文页数:24
标准全文下载:
GB_T 38532-2020 微束分析 电子背散射衍射 平均晶粒尺寸的测定.pdf
(62.6 MB)
2021-3-21 20:43 上传
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文档封面截图如下:
分析
,
电子
,
平均
,
背散射
,
衍射
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