GB/T 17421的本部分规定了与数控机床装配成一体的接触式探测系统(离散点探测模式)测量性能评估的检测程序。本部分不含其他型式的探测系统，如那些用于扫描模式或非接触式的探测系统。用于坐标测量机的机床性能评估也不在本部分范围内，这些性能涉及跟踪能力的问题，明显受机床几何精度影响。本部分规定的机床探测系统检测还可按GB/T 16857.2和GB/T 16857.5测定。
标准编号：GB/T 17421.10-2021
中文名称：机床检验通则 第10部分：数控机床探测系统测量性能的测定
英文名称：Test code for machine tools-Part 10:Determination of the measuring performance of probing systems of numerically controlled machine tools
发布日期：2021-03-09
实施日期：2021-10-01
采用标准：ISO 230-10-2016
引用标准：GB/T 16857.5-2017;ISO 230-1;ISO 230-2;ISO 230-3:2007
提出单位：中国机械工业联合会
全文页数：43
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GB_T 17421.10-2021 机床检验通则 第10部分：数控机床探测系统测量性能的测定.pdf
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