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YS/T 26-2016 硅片边缘轮廓检验方法

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查看3417 | 回复5 | 2021-5-20 16:06 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了硅片边缘轮廓（包含切口）的检验方法。本标准适用于检验倒角硅片的边缘轮廓（包含切口），砷化镓等其他材料晶片边缘轮廓的检验可参照本标准执行。

标准编号：YS/T 26-2016
中文名称：硅片边缘轮廓检验方法
发布日期：2016-07-11
实施日期：2017-01-01
代替标准：YS/T 26-1992
全文页数：10


标准全文下载：
YS_T 26-2016 硅片边缘轮廓检验方法.pdf (564.5 KB)
轮廓, 边缘, 方法, 检验, 硅片

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