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SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法

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查看3735 | 回复6 | 2021-5-26 10:51 | 显示全部楼层 |阅读模式
本标准规定了二极管1Hz～300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求。

标准编号：SJ/T 11767-2020
中文名称：二极管低频噪声参数测试方法
发布日期：2020-12-09
实施日期：2021-04-01
全文页数：8


标准全文下载：
SJ_T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法.pdf (2.89 MB)
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