[电子] SJ/T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法

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本标准规定了二极管1Hz~300kHz频率范围内的噪声参数测试方法及要求。

标准编号:SJ/T 11767-2020
中文名称:二极管低频噪声参数测试方法
发布日期:2020-12-09
实施日期:2021-04-01
全文页数:8


标准全文下载:
SJ_T 11767-2020 二极管低频噪声参数测试方法.pdf (2.89 MB)
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