[国家标准] GB/T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法

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查看9107 | 回复0 | 2024-1-31 19:56 | 显示全部楼层 |阅读模式
本文件描述了具有线性光电响应特性的线阵、面阵和时间延迟积分(TDI)CMOS 图像传感器(以下简称器件)参数及其测试方法。本文件适用于具有线性光电响应特性的线阵、面阵和 TDI器件参数测试。

标准编号:GB/T 43063-2023
中文名称:集成电路   CMOS图像传感器测试方法
英文名称:Integrated circuit—Test method for CMOS image sensors
发布日期:2023-09-07
实施日期:2024-01-01
提出单位:中华人民共和国工业和信息化部
全文页数:34


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GB_T 43063-2023 集成电路 CMOS图像传感器测试方法.pdf (3.09 MB)

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