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SJ 20868-2003 电荷耦合成像器件测试方法

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查看2730 | 回复4 | 2011-2-27 14:33 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号：SJ 20868-2003
实施状态：现行
中文名称：电荷耦合成像器件测试方法
英文名称：Measuring methods for charge coupled imaging device
组织分类：SJ
中标分类：L50
ICS分类：31.260
标准分类：QT
发布日期：2003-12-15
实施日期：2004-03-01
归口单位：信息产业部电子第四研究所
起草单位：中国电子科技集团公司第四十四研究所
范围：本标准规定了光谱范围为350nm～1100nm的线阵和面阵电荷耦合成像器件的参数测试方法。
文件格式：PDF
文件大小：547.75KB
文件页数：24
（以上信息更新时间为：2019-04-22）

标准全文下载：
SJ 20868-2003 电荷耦合成像器件测试方法.pdf (547.75 KB)
208682003, 电荷, 成像, 器件, 测试

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