标准号：GB/T 11685-2003
实施状态：现行
中文名称：半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
英文名称：Measurement procedures for semiconductor X - ray detector system and semiconductor X-ray energy spectrometers
组织分类：GB
中标分类：F80
ICS分类：27.120.01
标准分类：CN
发布日期：2003-07-07
实施日期：2004-01-01
被替代标准：
代替标准：GB/T 8992-1988;GB/T 11685-1989
归口单位：核工业标准化研究所
起草单位：核工业标准化研究所
范围：本标准规定了半导体X射线探侧器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的侧量方法。本标准适用于半导体X射线探侧器系统和半导体X射线能谱仪主耍性能的侧a.
文件格式：PDF
文件大小：1.03MB
文件页数：30
（以上信息更新时间为：2019-04-23）
标准全文下载：
GB_T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法.pdf
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