标准号：GB/T 36477-2018
实施状态：未实施
中文名称：半导体集成电路 快闪存储器测试方法
英文名称：Semiconductor integrated circuit. Measuring methods for flash memory
组织分类：GB
中标分类：L56
ICS分类：31.200
标准分类：CN
发布日期：2018-06-07
实施日期：2019-01-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：中国电子技术标准化研究院
范围：本标准规定了半导体集成电路快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能测试的基本方法。本标准适用于半导体集成电路领域中快闪存储器电参数、时间参数和存储单元功能的测试。
文件格式：PDF
文件大小：1.07MB
文件页数：19
（以上信息更新时间为：2019-03-19）
标准全文下载：
GB_T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法.pdf
(1.07 MB)
|
|
