YB/T 4590-2017 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

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查看8262 | 回复6 | 2017-4-12 14:48 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:YB/T 4590-2017
实施状态:现行
中文名称:硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
英文名称:Determination of multi-element contents in high purity graphite used for silicon
material. Inductively coupled plasma atomic emission spectrographic method
组织分类:YB
中标分类:Q51
ICS分类:29.050
标准分类:QT
发布日期:2017-04-12
实施日期:2017-10-01
作废日期:    -  -
归口单位:全国钢标准化技术委员会
起草单位:亚洲硅业(青海)有限公司
范围:本标准规定了电感祸合等离子体发射光谱法测定多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、
磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的方法。
本标准适用于多晶硅用高纯石墨制品中铝、钙、铜、铁、钾、镁、钠、磷、砷、锌、镍、铬、硼含量的测定。
文件格式:PDF
文件大小:372.66KB
文件页数:7
(以上信息更新时间为:2019-03-23)

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YB_T 4590-2017 硅材料用高纯石墨制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法.pdf (372.66 KB)

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