标准号：GB/T 36655-2018
实施状态：未实施
中文名称：电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
英文名称：Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging. XRD method
组织分类：GB
中标分类：L90
ICS分类：31.030
标准分类：CN
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
作废日期： - -
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
起草单位：国家硅材料深加工产品质量监督检验中心
范围：本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量，其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5%以下半定量分析,0.5%~5%定量分析。
文件格式：PDF
文件大小：275.57KB
文件页数：8
（以上信息更新时间为：2019-03-30）
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GB_T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法.pdf
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