收藏本站
开启辅助访问 切换到窄版
麦田学社»首页 › 标准分享 › 行业标准 › YS/T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 ...

[有色冶金] YS/T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法

[复制链接]
查看2613 | 回复5 | 2016-7-14 18:59 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号：YS/T 1164-2016
实施状态：现行
中文名称：硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法
英文名称：Test method for the content of impurities in high purity quartz used for silicon material. Inductively coupled plasma atomic emission spectrometry method
组织分类：YS
中标分类：Q35
ICS分类：81.040
标准分类：QT
发布日期：2016-07-11
实施日期：2017-01-01
归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
起草单位：亚洲硅业(青海)有限公司
范围：本标准规定了多晶硅用高纯石英制品中铝、钙、钾、钠、铜、镁、磷、砷、锌、镍、硼含量的测试方法。本标准适用于多晶硅用高纯石英制品中铝、钙、钾、钠、铜、镁、磷、砷、锌、镍、硼含量的测定，测定范围见表1。
文件格式：PDF
文件大小：334.66KB
文件页数：7
（以上信息更新时间为：2019-03-26）

标准全文下载：
YS_T 1164-2016 硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法.pdf (334.66 KB)
11642016, 硅材料, 材料, 高纯, 石英

相关帖子

下载国家标准、行业标准、地方标准、企业标准、国外标准，请到麦田学社！

使用道具 举报

返回列表