标准号：GB/T 20726-2015
实施状态：现行
中文名称：微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
英文名称：Micobeam analysis. selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis
组织分类：GB
中标分类：G40
ICS分类：71.040.99
标准分类：CN
发布日期：2015-10-09
实施日期：2016-09-01
作废日期： - -
代替标准：GB/T 20726-2006
采用标准：ISO 15632-2012,IDT
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
起草单位：中国科学院地质与地球物理研究所
范围：本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的性能参数。本标准仅适用于基于固态电离原理的半导体探侧器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程,在ISO 22309[2]和ASTM E1508[3]中已有规范,不在本标准范围之内。
文件格式：PDF
文件大小：872.50KB
文件页数：14
（以上信息更新时间为：2019-03-29）
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GB_T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法.pdf
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