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GB_T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法.pdf

 

GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法:
标准编号：GB/T 41805-2022
中文名称：光学元件表面疵病定量检测方法  显微散射暗场成像法
英文名称：Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging
发布日期：2022-10-14
实施日期：2023-05-01
全文页数：16


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文档封面截图如下：
GB/T 41805-2022 光学元件表面疵病定量检测方法 显微散射暗场成像法
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