GB_T 42848-2023 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法.pdf

本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。

标准编号：GB/T 42848-2023
中文名称：半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
英文名称：Semiconductor intergrated circuits—Test method of direct digital frequency synthesizer
发布日期：2023-08-06
实施日期：2023-12-01
引用标准：GB/T 17574-1998
提出单位：中华人民共和国工业和信息化部
全文页数：32


标准全文下载：


文档封面截图如下：