GB_T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法.pdf

标准号：GB/T 23413-2009
实施状态：现行
中文名称：纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法
英文名称：Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials. X-ray diffraction line broadening method
组织分类：GB
中标分类：N78
ICS分类：19.100
标准分类：CN
发布日期：2009-04-01
实施日期：2009-12-01
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
起草单位：钢铁研究总院
范围：本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。
本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100nm,微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。
文件格式：PDF
文件大小：368.33KB
文件页数：11
（以上信息更新时间为：2019-04-14）

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