标准号：SJ/T 10435-1993
实施状态：现行
中文名称：半导体电阻应变计总规范
英文名称：General specification for the semiconductor resistance strain gage
组织分类：SJ
中标分类：L15;N62
标准分类：QT
发布日期：1993-12-17
实施日期：1994-06-01
归口单位：无
起草单位：电子工业部第四十九研究所
范围：本标准规定了半导体电阻应变计的基本技术要求,质量评定程序和试验方法。本标准适用于以半导体压阻效应为基本原理而制造的半导体电阻应变计,包括体型应变计、扩散型半桥应变计、扩散型全桥(如硅膜片、硅梁、硅柱等)应变计(以下简称应变计)。
文件格式：PDF
文件大小：2.92MB
文件页数：16
（以上信息更新时间为：2019-05-05）
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SJ_T 10435-1993 半导体电阻应变计总规范.pdf
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