SJ 20026-1992 金属氧化物半导体气敏元件测试方法

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查看9935 | 回复3 | 2010-9-8 14:20 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:SJ 20026-1992
实施状态:现行
中文名称:金属氧化物半导体气敏元件测试方法
英文名称:Measuring methods for gas sensors of metal-oxide semiconductor
组织分类:SJ
中标分类:L15
标准分类:QT
发布日期:1992-02-01
实施日期:1992-05-01
被替代标准:
代替标准:
归口单位:中国电子技术标准化研究所
起草单位:国营四三二二厂
范围:本标准适用于军用金属氧化物半导体气敏元件气电参数的测试,其它气敏元件亦可参照使用。
文件格式:PDF
文件大小:2.18MB
文件页数:15
(以上信息更新时间为:2019-05-07)

标准全文下载:
SJ 20026-1992 金属氧化物半导体气敏元件测试方法.pdf (2.18 MB)

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