标准号：SJ/Z 2926-1988
实施状态：现行
中文名称：集成电路制版设备性能测试方法
组织分类：SJ
中标分类：L99
标准分类：QT
发布日期：1988-03-10
实施日期：1988-10-01
归口单位：无
起草单位：电子工业部第四十五研究所
范围：本指导性技术文件适用于自动刻(绘)图机、图形发生器、精缩照相机三类光学制版设备主要性能测试方法。测试目的在于检查设备的技术性能指标是否达到原设计或使用要求。本指导性技术文件未规定的性能测试方法,应在各类设备技术文件中另行规定。
文件格式：PDF
文件大小：3.49MB
文件页数：19
（以上信息更新时间为：2019-05-10）
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SJ_Z 2926-1988 集成电路制版设备性能测试方法.pdf
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