SJ 2658.11-1986 半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法

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查看10021 | 回复6 | 2011-3-8 00:15 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:SJ 2658.11-1986
实施状态:已作废
中文名称:半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法
组织分类:SJ
中标分类:L53
标准分类:QT
发布日期:1986-01-21
实施日期:1986-10-01
作废日期:2016-04-01
被替代标准:SJ/T 2658.11-2015
归口单位:
起草单位:
范围:本标准适用于半导体红外发光二极管脉冲响应特性的测试。
文件格式:PDF
文件大小:61.64KB
文件页数:2
(以上信息更新时间为:2019-05-11)

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SJ 2658.11-1986 半导体红外发光二极管测试方法 脉冲响应特性的测试方法.pdf (61.64 KB)

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