SJ 2658.13-1986 半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率温度系数的测量方法

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查看6615 | 回复5 | 2010-10-2 12:09 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:SJ 2658.13-1986
实施状态:已作废
中文名称:半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率温度系数的测量方法
组织分类:SJ
中标分类:L53
标准分类:QT
发布日期:1986-01-21
实施日期:1986-10-01
作废日期:2016-04-01
被替代标准:SJ/T 2658.13-2015
归口单位:
起草单位:电子工业部第44研究所
范围:本标准适用于半导体红外发光二极管输出光功率温度系数的测试。
文件格式:PDF
文件大小:50.09KB
文件页数:2
(以上信息更新时间为:2019-05-11)

标准全文下载:
SJ 2658.13-1986 半导体红外发光二极管测试方法 输出光功率温度系数的测量方法.pdf (50.09 KB)

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