SJ 2658.12-1986 半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法

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查看5370 | 回复5 | 2010-10-6 00:05 | 显示全部楼层 |阅读模式
标准号:SJ 2658.12-1986
实施状态:已作废
中文名称:半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法
组织分类:SJ
中标分类:L53
标准分类:QT
发布日期:1986-01-21
实施日期:1986-10-01
作废日期:2016-04-01
被替代标准:SJ/T 2658.12-2015
归口单位:
起草单位:
范围:本标准适用于半导体红外发光二极管峰值发射波长和光谱半宽度的测试。
文件格式:PDF
文件大小:40.24KB
文件页数:2
(以上信息更新时间为:2019-05-11)

标准全文下载:
SJ 2658.12-1986 半导体红外发光二极管测试方法 峰值发射波长和光谱半宽度的测试方法.pdf (40.24 KB)

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